TEM(Transmission Electron Microscope、透過型電子顕微鏡)とは？意味をわかりやすく簡単に解説

text: XEXEQ編集部

TEM(Transmission Electron Microscope、透過型電子顕微鏡)とは

TEMとは、Transmission Electron Microscope(透過型電子顕微鏡)の略称です。この顕微鏡は、電子線を試料に照射し、透過した電子を検出することで、ナノスケールの物質構造を可視化することができます。

TEMは、材料科学や生物学などの分野で広く利用されています。特に、原子レベルでの結晶構造解析や、ウイルスや細胞内小器官などの観察に威力を発揮します。

TEMの原理は、波長の短い電子線を利用することで、光学顕微鏡の限界を超える高い分解能を達成することにあります。電子線は、磁界レンズによって収束され、試料を透過した後、像面上に拡大投影されます。

TEMには、明視野像と暗視野像の2種類の観察モードがあります。明視野像は、透過した電子線の強度分布を反映した像で、試料の密度や厚さに応じたコントラストが得られます。一方、暗視野像は、回折した電子線のみを用いて結像するため、結晶構造に関する情報が得られるのです。

TEMの試料作製には、超薄切片法や、レプリカ法、ネガティブ染色法などの手法が用いられます。試料の種類や目的に応じて、適切な手法を選択することが重要となります。

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