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公開：2024-09-26

タカヤ株式会社がハイブリッド検査システムで優秀賞受賞、高密度実装基板のテストカバレッジ拡大を実現

text: XEXEQ編集部
（記事は執筆時の情報に基づいており、現在では異なる場合があります）

記事の要約

• タカヤ株式会社がエレクトロニクス実装学会で優秀賞受賞
• JTAG検査とフライングプローブテスタの連携技術を発表
• 高密度実装基板のテストカバレッジ拡大を実現

タカヤ株式会社のハイブリッド検査システムが優秀賞を受賞

タカヤ株式会社は2024年9月25日、「第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会」にて優秀賞を受賞した。同社は「JTAG検査とフライングプローブテスタを組み合わせたハイブリッド検査システムの最新動向」と題した講演発表を行い、高密度実装基板のテストカバレッジを拡大する革新的な技術を紹介したのだ。^[1]

このハイブリッド検査システムは、JTAG検査とフライングプローブテスタの長所を組み合わせることで、アナログ回路・デジタル回路・電源回路の総合的な検査を可能にした。これにより、高密度実装基板の検査において、テストカバレッジの大幅な向上と不良箇所の迅速な解析が実現された。同時に、多品種少量生産にも対応できる柔軟性を備えている点も高く評価されたのだろう。

エレクトロニクス実装学会は、日本のエレクトロニクス産業のコア技術である実装技術に関する学会であり、約2,400名の研究者・技術者によって構成されている。タカヤ株式会社の受賞は、同社の技術力が業界内で高く評価されたことを示すものだ。この成果は、今後の電子機器の品質向上や生産効率の改善に大きく貢献することが期待される。

ハイブリッド検査システムの特徴まとめ

JTAGについて

JTAGとは「Joint Test Action Group」の略称で、電子機器のテストやデバッグに使用される標準規格のことを指す。主な特徴として、以下のような点が挙げられる。

• 高密度実装基板の検査に適している
• デジタル回路の検査に特化している
• 基板の裏側に隠れた端子でも実装不良を検出可能

タカヤ株式会社が開発したハイブリッド検査システムでは、このJTAG検査の特徴を活かしつつ、フライングプローブテスタと組み合わせることで、より総合的な基板検査を実現している。これにより、高密度実装基板の検査における課題を効果的に解決し、テストカバレッジの拡大と不良箇所の迅速な特定を可能にしたのだ。

ハイブリッド検査システムに関する考察

タカヤ株式会社が開発したハイブリッド検査システムは、電子機器の品質向上と生産効率の改善に大きく貢献する可能性を秘めている。特に、JTAG検査とフライングプローブテスタの長所を組み合わせることで、これまで別々に行われていたデジタル回路とアナログ回路の検査を一元化できる点が画期的だ。この技術革新により、製造業界全体の検査プロセスが効率化され、製品の信頼性向上にもつながるだろう。

一方で、この新しい検査システムの導入には、既存の検査設備や工程の大幅な見直しが必要になる可能性がある。特に中小企業にとっては、初期投資の負担が大きくなる可能性があり、導入障壁となる可能性がある。この課題に対しては、段階的な導入計画の策定やリース方式の活用など、柔軟な導入方法を検討することが解決策となるだろう。

今後、このハイブリッド検査システムがさらに進化することで、AI技術との統合や自動化レベルの向上などが期待される。例えば、機械学習を活用した不良パターンの予測や、IoTデバイスとの連携による遠隔監視機能の実装などが考えられる。タカヤ株式会社には、この革新的な技術をさらに発展させ、エレクトロニクス業界全体の発展に寄与することを期待したい。

参考サイト

1. ^ PR TIMES. 「【優秀賞】タカヤ株式会社「第38回 エレクトロニクス実装学会 春季講演大会」にて優秀賞を受賞 | タカヤ株式会社のプレスリリース」. https://prtimes.jp/main/html/rd/p/000000001.000146452.html, (参照 24-09-26).

※上記コンテンツはAIで確認しておりますが、間違い等ある場合はコメントよりご連絡いただけますと幸いです。

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